XAU是一款一機(jī)多用型光譜儀,應(yīng)用了*的EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足成分分析。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。 搭載微聚焦X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),測量面積達(dá)0.03mm² 擁有無損變焦檢測技術(shù),手動(dòng)變焦功能,可對各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm
XTU-50A是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度高的鍍層測厚儀,C型開槽設(shè)計(jì)樣品腔,讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測,同時(shí)還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。 被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
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